设备原理

透射电子显微镜（TEM）以电子为照明源，由电子枪发射出来的电子，在阳极加速电压作用下，经过聚光镜，会聚为电子束照射到非常薄的样品上，样品不同部位对入射电子束的散射强度不同，当电子波穿过样品时，不同部位其振幅和相位将发生变化，这些变化可以产生像衬度，经物镜，中间镜和投影镜聚焦放大，最终以图像形式显示于荧光屏上，得到样品的明暗场像，及高分辨像。把像平面置于物镜后焦面，可以得到电子衍射谱，从而对选区晶体结构进行分析。

设备简介仪器型号：JEM-F生产厂家：日本电子JEOL应用领域

透射电子显微镜分辨率高，可以得到材料高分辨的晶格像，观察材料微区晶体结构。中心透射电子显微镜配置有能谱仪（EDS）及电子能量损失谱仪（EELS），对材料微区成分分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。

针对锂（金属）电池、钠电池材料表面SEI不耐电子辐照，易受空气水分影响这一问题，中心配备有冷冻样品杆，可实现惰性转移，并在低温下观察材料高分辨像。

案例分析

下期预告：

绝热加速量热仪（ARC）

下期预告：绝热加速量热（ARC）

服务流程01客户提出测试需求02TIES评估后出具报价03

客户确认报价、预付款项

04

客户寄送样品、回签报价

05

TIES收到样品后安排测试

06

发送报告

文/马璐视频/丁洁编辑/丁洁

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